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방사광을 이용한 전반사 형광 X선 분석시 실리콘 웨이퍼의 결정방향에 대한 배경강도 의존성 연구
방사광을 이용한 전반사 형광 X선 분석시 실리콘 웨이퍼의 결정방향에 대한 배경강도 의존성 연...
방사광을 이용한 전반사 형광 X선 분석시 실리콘 웨이퍼의 결정방향에 대한 배경강도 의존성 연구

Detailed Information

Material Type  
 기사
ISSN  
17388228
Title/Author  
방사광을 이용한 전반사 형광 X선 분석시 실리콘 웨이퍼의 결정방향에 대한 배경강도 의존성 연구 / 許秉國
Material Info  
pp. 545
Added Entry-Personal Name  
許秉國
Host Item Entry  
대한금속ㆍ재료학회지 : v.40 n.5 2002, 05
모체레코드  
모체정보확인
Control Number  
gtec:353530

MARC

 008171023s2002              a    a                          jpn
■022    ▼a17388228
■245    ▼a방사광을  이용한  전반사  형광  X선  분석시  실리콘  웨이퍼의  결정방향에  대한  배경강도  의존성  연구▼d許秉國
■300    ▼app.  545
■7001  ▼a許秉國
■773    ▼t대한금속ㆍ재료학회지▼gv.40  n.5▼d2002,  05
■SIS    ▼aKS008656▼b63212▼h3▼sG

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