서브메뉴
검색
UV/O_3와 ECR 플라즈마를 이용한 wafer storage box로부터 발생하는 Si 웨이퍼 표면 위의 유기오염물 제거
UV/O_3와 ECR 플라즈마를 이용한 wafer storage box로부터 발생하는 Si 웨이퍼 표면 위의 유기오염물 제거
상세정보
MARC
008171023s2002 a a jpn■022 ▼a17388228
■245 ▼aUV/O_3와 ECR 플라즈마를 이용한 wafer storage box로부터 발생하는 Si 웨이퍼 표면 위의 유기오염물 제거▼d崔均碩
■300 ▼app. 766
■7001 ▼a崔均碩
■773 ▼t대한금속ㆍ재료학회지▼gv.40 n.7▼d2002, 07
■SIS ▼aKS008784▼b63212▼h3▼sG


