자료유형  

 단행본

ISBN  

9788926803851

UDC  

535.243

DDC  

535.84-23

청구기호  

535.84 양25e

저자명  

양동석 지음

서명/저자  

EXAFS 분광학의 이해 / 양동석 지음

발행사항  

서울 : 한국학술정보, 2009

형태사항  

228p. : 삽도 ; 26cm

총서명  

내일을 여는 지식 과학기술 ; 3

주기사항  

대한민국학술원 선정 "2010 우수학술도서"

가격  

15,000

Control Number  

gtec:30409

책소개  

Extended X－ray Absorption Fine Structure(EXAFS) 분석법은 물질의 국부구조 특히 비결정질 재료의 구조를 분석하는 기술로 1971년 미국에서 처음 개발되었다. 그러나 오늘날 EXAFS 분석은 비결정질 재료뿐 아니라 결정질, 분자, 촉매 등 다양한 재료의 구조 분석에 이용되고 있으며 1970년대 방사광 가속기(Synchrotron)의 출현은 EXAFS 분야의 발전을 가속화시켰다.