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재료시험법 : 비파괴시험편
재료시험법 : 비파괴시험편
Detailed Information
- 자료유형
- 단행본
- ISBN
- 8971216786
- UDC
- 620.1
- DDC
- 620.112 정66ㅈ-23
- 청구기호
- 620.112 정66ㅈ
- 저자명
- 정우광, 유홍균 공저
- 서명/저자
- 재료시험법 : 비파괴시험편 / 정우광, 유홍균 공저
- 발행사항
- 서울 : 세진사, 2005
- 형태사항
- 302p. : 삽도 ; 26cm
- 내용주기
- 완전내용제1장 방사선 투과검사(Radiographic Test)부분내용11완전내용1-1. 필름 판독부분내용13완전내용1. 흠의 종별부분내용13완전내용2. 흠의 모양 및 형태부분내용13완전내용3. 판독자부분내용19완전내용4. 종별 결함 판독 방법 예제부분내용20완전내용5. 실전 연습부분내용27완전내용1-2. 노출도표 계산 및 촬영 배치부분내용37완전내용1. 노출도표 계산 및 촬영 배치부분내용37완전내용2. 촬영 배치부분내용3900완전내용1-3. 안전관리 및 촬영부분내용5511완전내용1. 안전관리부분내용5522완전내용2. 촬영부분내용6133완전내용제2장 초음파 탐상검사(Ultrasonic Test)부분내용6944완전내용2-1. 초음파 탐상장치 조작하기부분내용7155완전내용1. 초음파 탐상기의 구성부분내용7166완전내용2. 초음파 탐상기 설치하기부분내용7177완전내용3. 초음파 탐상기 패널 익히기부분내용7288완전내용4. 초음파 탐상기 기본 조작부분내용7399완전내용2-2. 수직 탐상하기부분내용8800완전내용1. 수직 탐상하기부분내용8811완전내용2-3. 사각 탐상하기부분내용10122완전내용1. 사각 탐상하기부분내용10133완전내용2-4. 용접부 탐상하기부분내용12444완전내용1. 평판 맞대기 용접부 탐상하기부분내용12455완전내용2. 길이이음 용접부(곡률) 탐상하기부분내용14066완전내용3. 필릿(Fillet) 용접부 탐상하기부분내용15077완전내용제3장 자기 탐상검사(Magnetic Test)부분내용15988완전내용3-1. 자기탐상 기초 및 장치부분내용16199완전내용1. 부속 장치 및 탐상제의 종류부분내용16100완전내용2. 자분 공급 방법 및 잔류자장 제거법(탈자법)부분내용17211완전내용3-2. 극간법 탐상하기부분내용17522완전내용1. 극간법 탐상하기(요크 이용)부분내용17533완전내용3-3. 프로드법 탐상하기부분내용19044완전내용1. 프로드법 탐상하기부분내용19055완전내용3-4. 자분 지시 모양의 종류부분내용19666완전내용1. 자분 지시 모양의 분류부분내용19677완전내용제4장 와전류 탐상검사(Edd Current Test)부분내용20788완전내용4-1. 와전류 탐상 기초 및 장치부분내용20999완전내용1. 와전류 탐상검사에 이용되는 용어들부분내용20900완전내용2. 부속 장치 및 대비 시험편의 종류부분내용21611완전내용4-2. 와전류 탐상장치 조작하기부분내용22322완전내용1. 장치 기본 키부분내용22333완전내용2. 장치 보조 키부분내용22444완전내용4-3. 와전류 탐상하기부분내용23255완전내용1. 표면 균열 검사부분내용23266완전내용2. 재질 검사부분내용23777완전내용3. 전도도 측정부분내용24188완전내용4. 내삽형 시험부분내용24499완전내용제5장 침투 탐상기초 및 장치검사(Liquid Penetrant Test)부분내용25300완전내용5-1. 팀투 탐상기초 및 장치부분내용25511완전내용1. 침투탐상방법에 사용되는 용어들부분내용25522완전내용2. 부속 장치 및 탐상제의 종류부분내용25633완전내용3. 침투제의 종류부분내용26244완전내용4. 세척제의 종류부분내용26455완전내용5. 현상제의 종류부분내용26566완전내용6. 검사 절차부분내용26777완전내용7. 기호 읽는 방법 및 시험 순서부분내용27388완전내용5-2. 침투 탐상하기부분내용27699완전내용1. 침투 탐상부분내용27600완전내용5-3. 침투 지시 모양 및 결함의 분류부분내용29411완전내용1. 침투 지시 모양 및 결함의 분류(KS B 0816)부분내용29422
- 가격
- 22,000
- Control Number
- gtec:26392
MARC
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■505 ▼a제1장 방사선 투과검사(Radiographic Test)▼c11▼a1-1. 필름 판독▼c13▼a1. 흠의 종별▼c13▼a2. 흠의 모양 및 형태▼c13▼a3. 판독자▼c19▼a4. 종별 결함 판독 방법 예제▼c20▼a5. 실전 연습▼c27▼a1-2. 노출도표 계산 및 촬영 배치▼c37▼a1. 노출도표 계산 및 촬영 배치▼c37▼a2. 촬영 배치▼c3900▼a1-3. 안전관리 및 촬영▼c5511▼a1. 안전관리▼c5522▼a2. 촬영▼c6133▼a제2장 초음파 탐상검사(Ultrasonic Test)▼c6944▼a2-1. 초음파 탐상장치 조작하기▼c7155▼a1. 초음파 탐상기의 구성▼c7166▼a2. 초음파 탐상기 설치하기▼c7177▼a3. 초음파 탐상기 패널 익히기▼c7288▼a4. 초음파 탐상기 기본 조작▼c7399▼a2-2. 수직 탐상하기▼c8800▼a1. 수직 탐상하기▼c8811▼a2-3. 사각 탐상하기▼c10122▼a1. 사각 탐상하기▼c10133▼a2-4. 용접부 탐상하기▼c12444▼a1. 평판 맞대기 용접부 탐상하기▼c12455▼a2. 길이이음 용접부(곡률) 탐상하기▼c14066▼a3. 필릿(Fillet) 용접부 탐상하기▼c15077▼a제3장 자기 탐상검사(Magnetic Test)▼c15988▼a3-1. 자기탐상 기초 및 장치▼c16199▼a1. 부속 장치 및 탐상제의 종류▼c16100▼a2. 자분 공급 방법 및 잔류자장 제거법(탈자법)▼c17211▼a3-2. 극간법 탐상하기▼c17522▼a1. 극간법 탐상하기(요크 이용)▼c17533▼a3-3. 프로드법 탐상하기▼c19044▼a1. 프로드법 탐상하기▼c19055▼a3-4. 자분 지시 모양의 종류▼c19666▼a1. 자분 지시 모양의 분류▼c19677▼a제4장 와전류 탐상검사(Edd Current Test)▼c20788▼a4-1. 와전류 탐상 기초 및 장치▼c20999▼a1. 와전류 탐상검사에 이용되는 용어들▼c20900▼a2. 부속 장치 및 대비 시험편의 종류▼c21611▼a4-2. 와전류 탐상장치 조작하기▼c22322▼a1. 장치 기본 키▼c22333▼a2. 장치 보조 키▼c22444▼a4-3. 와전류 탐상하기▼c23255▼a1. 표면 균열 검사▼c23266▼a2. 재질 검사▼c23777▼a3. 전도도 측정▼c24188▼a4. 내삽형 시험▼c24499▼a제5장 침투 탐상기초 및 장치검사(Liquid Penetrant Test)▼c25300▼a5-1. 팀투 탐상기초 및 장치▼c25511▼a1. 침투탐상방법에 사용되는 용어들▼c25522▼a2. 부속 장치 및 탐상제의 종류▼c25633▼a3. 침투제의 종류▼c26244▼a4. 세척제의 종류▼c26455▼a5. 현상제의 종류▼c26566▼a6. 검사 절차▼c26777▼a7. 기호 읽는 방법 및 시험 순서▼c27388▼a5-2. 침투 탐상하기▼c27699▼a1. 침투 탐상▼c27600▼a5-3. 침투 지시 모양 및 결함의 분류▼c29411▼a1. 침투 지시 모양 및 결함의 분류(KS B 0816)▼c29422
■9500 ▼c22,000
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