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電子顯微鏡
電子顯微鏡
Detailed Information
- Material Type
- 단행본
- ISBN
- 4-320-03078-8
- UDC
- 535.8
- DDC
- 535-23
- Callnumber
- 535 상74ㅈ
- Author
- 上田良二
- Title/Author
- 電子顯微鏡/ 上田良二
- Publish Info
- 일본: : 共立出版,, 1990
- Material Info
- xiii, 445p.: : 삽도; ; 22cm
- Added Entry-Title
- 實驗物理學 講座; ; 23
- General Note
- 권말 색인 포함.
- Formatted Contents Note
- 완전내용I. 槪論완전내용1. 電子光學機器부분내용1완전내용2. 透過型電子顯微鏡부분내용15완전내용3. 像と回折圖形부분내용33완전내용4. 電子顯微鏡像の解釋부분내용47완전내용II. 透過型電子顯微鏡の構造と機能완전내용5. 電子レンズ부분내용61완전내용6. 照射系부분내용89완전내용7. 試料裝置と觀察裝置부분내용111완전내용8. 電源裝置부분내용12100완전내용III. 試料技術と操作法11완전내용9. 一般的事項と試料支持膜부분내용12722완전내용10. 粉體試料およびレプリカ法부분내용13933완전내용11. 膜狀試料부분내용15144완전내용12. 厚い材料からの薄片試料作成부분내용16755완전내용13. 電子顯微鏡の操作と諸量の檢定부분내용17766완전내용IV. 電子顯微鏡像の解釋77완전내용14. 非晶質物體のコントラスト부분내용19388완전내용15. 電子回折の理論부분내용21399완전내용16. 格子欠陷のコントラスト부분내용25100완전내용17. 周期構造の電子顯微鏡像부분내용28511완전내용18. 非彈性散亂電子による結像부분내용30322완전내용V. 走査型電子顯微鏡 (SEM) と關連裝置33완전내용19. 基本的事項부분내용32544완전내용20. 試料作成法と各種の信號による像부분내용35155완전내용21. 透過型走査電子顯微鏡부분내용36966완전내용22. X 線微量分析計부분내용39377완전내용附錄부분내용41188
- Price Info
- ￥12000
- Control Number
- gtec:11135
MARC
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■505 ▼aI. 槪論▼a1. 電子光學機器▼c1▼a2. 透過型電子顯微鏡▼c15▼a3. 像と回折圖形▼c33▼a4. 電子顯微鏡像の解釋▼c47▼aII. 透過型電子顯微鏡の構造と機能▼a5. 電子レンズ▼c61▼a6. 照射系▼c89▼a7. 試料裝置と觀察裝置▼c111▼a8. 電源裝置▼c12100▼aIII. 試料技術と操作法11▼a9. 一般的事項と試料支持膜▼c12722▼a10. 粉體試料およびレプリカ法▼c13933▼a11. 膜狀試料▼c15144▼a12. 厚い材料からの薄片試料作成▼c16755▼a13. 電子顯微鏡の操作と諸量の檢定▼c17766▼aIV. 電子顯微鏡像の解釋77▼a14. 非晶質物體のコントラスト▼c19388▼a15. 電子回折の理論▼c21399▼a16. 格子欠陷のコントラスト▼c25100▼a17. 周期構造の電子顯微鏡像▼c28511▼a18. 非彈性散亂電子による結像▼c30322▼aV. 走査型電子顯微鏡 (SEM) と關連裝置33▼a19. 基本的事項▼c32544▼a20. 試料作成法と各種の信號による像▼c35155▼a21. 透過型走査電子顯微鏡▼c36966▼a22. X 線微量分析計▼c39377▼a附錄▼c41188
■950 ▼b￥12000
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