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電子顯微鏡硏究者のための FIB · イオンミリング技法Q&A - ナノテクノロジ－の推進役 -
電子顯微鏡硏究者のための FIB · イオンミリング技法Q&A - ナノテクノロジ－の推進役 -
상세정보
- 자료유형
- 단행본
- ISBN
- 4-900508-74-8
- UDC
- 535.8
- DDC
- 535-23
- 청구기호
- 535 평892ㅈ
- 저자명
- 平坂雅男, 朝倉健太郞
- 서명/저자
- 電子顯微鏡硏究者のための FIB · イオンミリング技法Q&A - ナノテクノロジ－の推進役 -/ 平坂雅男, 朝倉健太郞 共編
- 발행사항
- 일본: : アグネ承風社,, 2002
- 형태사항
- x, 208p.: : 삽도; ; 26cm
- 주기사항
- 권말 색인 포함.
- 내용주기
- 완전내용まえがき부분내용i완전내용第1章 基礎 (Basic)부분내용1완전내용第2章 FIB (Focused Ion Beam)완전내용2.1 基礎완전내용[一般]부분내용18완전내용[ビ－ム]부분내용23완전내용[裝置]부분내용28완전내용[觀察]부분내용35완전내용[作製法]부분내용40완전내용2.2 前處理00완전내용[ダイシング]부분내용4511완전내용[保護膜]부분내용5222완전내용2.3 ノウハウ33완전내용[作製法]부분내용5644완전내용2.4 應用55완전내용第3章 イオンミリング (Ion Milling)66완전내용3.1 基礎77완전내용[一般]부분내용10588완전내용[ビ－ム]부분내용11099완전내용[裝置]부분내용11600완전내용[作製法]부분내용11911완전내용3.2 前處理부분내용12322완전내용3.3 ノウハウ33완전내용[前處理]부분내용12944완전내용3.4 應用55완전내용[裝置]부분내용14766완전내용[應用]부분내용14977완전내용第4章 その他 (Others)88완전내용[分析法]부분내용18799완전내용[加功]부분내용19200완전내용附錄 (Supplement)부분내용19811완전내용索引부분내용20322
- 가격
- ￥7000
- Control Number
- gtec:11132
MARC
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